Buch

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Übersicht

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Verlag	:	VS Verlag für Sozialwissenschaften
Buchreihe	:	Fachgruppe Mathematik/Informatik, Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen (Bd. 3052)
Sprache	:	Deutsch
Erschienen	:	01. 01. 1981
Seiten	:	54
Einband	:	Kartoniert
Gewicht	:	135 g
ISBN	:	9783531030524

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Inhaltsverzeichnis

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1 Einleitung.- 2 Erfahrungen mit dem Prüfplatz für Leiterplattengeräte.- 2.1 Hardware-Aufbau.- 2.2 Testmuster.- 2.3 Hardware-Erweiterung.- 3 Vorbereitung des Programms DIALOG.- 3.1 Anforderungen.- 3.2 Konzepte.- 3.3 Der Vereinbarungsteil.- 3.4 Musterteil.- 3.5 Fehlerstop.- 3.6 Manuelle Prüfung.- 4 Ausführung des Programms DIALOG.- 4.1 Struktur.- 4.2 Hauptprogramm.- 4.3 Subroutine VEREIN.- 4.4 Subroutine ZEILE.- 4.5 Subroutine FUS.- 4.6 Codierung und Decodierung.- 5 Testläufe.- 5.1 Vorbemerkung.- 5.2 Speichertest.- 5.3 Bustest.- 5.4 Registerkettentest.- 6 Auswertung.- 6.1 Aussagen des Speichertests.- 6.2 Aussagen des Bustests.- 6.3 Aussagen des Registerkettentests.- 6.4 Verallgemeinerung.- 7 Zusammenfassung.- 8 Ausblick.- 9 Literatur.- 10 Anhang.- 10.1 Ergebnisse des Speichertests mit Kurzschluß.- 10.2 Ergebnisse des Speichertests mit Kondensator.- 10.3 Ergebnisse des Bustests mit Kurzschluß.- 10.4 Ergebnisse des Bustests mit Kondendator.- 10.5 Ergebnisse des Registerkettentests mit Kurzschluß.- 10.6 Ergebnisse des Registerkettentests mit Kondensator.

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