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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces

Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces

Chia-Wei Chen

 

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Produktinformation


Übersicht


Verlag : KIT Scientific Publishing
Buchreihe : Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung (Bd. 24)
Sprache : Englisch
Erschienen : 29. 04. 2025
Seiten : 210
Einband : Kartoniert
Höhe : 210 mm
Breite : 148 mm
Gewicht : 400 g
ISBN : 9783731514022
Sprache : Englisch
Illustrationen : graph. Darst.

Du und »Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces«




Produktinformation


Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.

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