Buch

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Übersicht

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Verlag	:	FAU University Press
Buchreihe	:	FAU Studien aus der Elektrotechnik (Bd. 23)
Sprache	:	Deutsch
Erschienen	:	14. 02. 2024
Seiten	:	106
Einband	:	Kartoniert
Höhe	:	240 mm
Breite	:	170 mm
Gewicht	:	325 g
ISBN	:	9783961476992

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Produktinformation

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Im vorliegenden Buch wird eine Methode entwickelt, die die Inline-CT zum Zweck der zerstörungsfreien Materialprüfung im industriellen Umfeld beschleunigt. Diese Methode basiert auf der Reduktion der Integrationszeit während eines Scans. Bedingt durch die Verkürzung der Integrationszeit verschlechtert sich die Qualität der resultierenden Bilder deutlich, weil das Rauschniveau in den Rohdaten ansteigt. Durch die Filterung der Rohdaten, der sogenannten Projektionen, kann die Bildqualität der rekonstruierten Volumina dennoch an die Qualität des aktuellen Stands der Technik herangeführt werden. Die Filterung des Rauschens in den verrauschten Projektionen übernimmt das Bilateralfilter. Dieses Filter ist eine Kombination aus zwei Komponenten. Die geometrische Komponente stellt einen Tiefpass dar. Die photometrische Komponente ist die nicht-lineare Komponente und spielt eine wichtige Rolle für die Kantenerhaltung. Wird das photometrische Filter empfindlich gegenüber kleinen Variationen in den Intensitätsunterschieden eingestellt, so können kleine Details im rekonstruierten Volumen erhalten bleiben. Die höchste Empfindlichkeit wird durch die dynamische Parameteranpassung erreicht. Die Implementierung der dynamischen Parameteranpassung ist unter Berücksichtigung der Spezifikation des Detektors möglich. Die erzielten Ergebnisse zeigen, dass unter Zuhilfenahme der vorgestellten Methode bestehend aus der Reduktion der Integrationszeit und der anschließenden Rauschfilterung der Projektionen der Durchsatz der Inline-CT verdoppelt werden kann.

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